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Systèmes de mesure pour semi-conducteurs TZZEK Tochnology

1 société | 6 produits
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système de mesure de dimension critique

système de mesure de dimension critiqueSpector

optique pour semi-conducteur de haute précision
système de mesure de dimension critique
Spector

... pour protéger le masque avec une pellicule. Pour la mesure CD sur le masque, le système fournit une illumination visible et UV en mode réfléchi et transmis. L'illumination UV peut être utilisée pour mesurer ...

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système de mesure de dimension critique

système de mesure de dimension critiqueMT270UV

optique pour semi-conducteur de haute précision
système de mesure de dimension critique
MT270UV

... pour protéger le masque avec une pellicule. Pour la mesure CD sur le masque, le système fournit une illumination visible et UV en mode réfléchi et transmis. L'illumination UV peut être utilisée pour mesurer ...

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système de mesure de dimension critiqueMT2010VIS/UV

d'épaisseur optique pour semi-conducteur
système de mesure de dimension critique
MT2010VIS/UV

... pour protéger le masque avec une pellicule. Pour la mesure CD sur le masque, le système fournit une illumination visible et UV en mode réfléchi et transmis. L'illumination UV peut être utilisée pour mesurer ...

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système de mesure de dimension critique

système de mesure de dimension critiqueIRIS

infrarouge par caméra pour semi-conducteur
système de mesure de dimension critique
IRIS

... Le système infrarouge de TZTEK occupe une position de leader au niveau mondial. Le système combine une caméra infrarouge haute performance avec une optique infrarouge optimisée pour générer ...

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système de mesure de dimension critique

système de mesure de dimension critiqueMT3000VIS/IR

infrarouge par caméra pour semi-conducteur
système de mesure de dimension critique
MT3000VIS/IR

... Le système infrarouge de TZTEK occupe une position de leader au niveau mondial. Le système combine une caméra infrarouge haute performance avec une optique infrarouge optimisée pour générer ...

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système de mesure de dimension critique

système de mesure de dimension critiqueMT2010VIS/IR

par caméra infrarouge automatique
système de mesure de dimension critique
MT2010VIS/IR

... Le système infrarouge de TZTEK occupe une position de leader au niveau mondial. Le système combine une caméra infrarouge haute performance avec une optique infrarouge optimisée pour générer ...

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