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Longueur d'onde: 785 nm
Longueur: 520 mm
Largeur: 810 mm
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... L'analyseur de wafer 2830 ZT à fluorescence X à dispersion de longueur d'onde dispose des dernières technologies en matière de mesure d'épaisseur de film et de composition. Spécifiquement conçu pour l'industrie des semi-conducteurs ...
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