Microscopes d'observation Jeol

... Koehler ». Ce mode permet de s’affranchir des franges d'interférence et élimine les dommages causés par le faisceau d'électrons aux zones non utilisées pour l'imagerie. Il vous permet d'obtenir ...

... ’analyse fine des rayons X (EDS) Le nouveau design de la FHP2 lui permet d’optimiser les conditions d’analyse en ultra haute résolution : • Son nouveau design à permis d’améliorer ...

... JSM-IT710HR donne aux utilisateurs l'envie d'aller au-delà de ce qui a été vu, grâce à la facilité d'utilisation avec des fonctions automatiques améliorées et à l'amélioration des performances d'observation ...

... est le microscope électronique à balayage le plus compact de sa catégorie. Ce microscope est doté de modes innovants qui simplifient l’acquisition automatique d’images et d’analyses ...

... préparation des échantillons MET. Le workflow a été développé pour réduire le temps passé de la préparation de l’échantillon à l’observation MET. TEM-linkage JEOL a développé un concept de cartouche à double inclinaison ...

... les acquisitions EBSD, et bien d’autres. L’utilisation d’un MEB FEG n’a jamais été aussi facile qu’avec la série JSM-IT810. Caractéristiques Fonction d’observation et d’analyse ...

Grossissement: 50 unit - 1 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,2 nm

... à l’observation de l’échantillon, telles que l’ajustement de la haute tension et le démarrage de l’émission. Une image de la zone d’intérêt à faible grandissement est acquise et servira de d’image ...

... ARM™ 300), équipé d'un canon d'émission à champ froid, d'un filtre d'énergie oméga en colonne, d'un étage de refroidissement à l'azote ...

Résolution spatiale: 0,08 nm - 0,23 nm

... Spot-IN et Spot-Out » Le 1er filtre de Wien et la lentille électrostatique produisent une focalisation avec une dispersion d’énergie de 12,3 µm/eV au niveau du plan de fente. A ce plan, le faisceau ...

Résolution spatiale: 0,14 nm - 0,31 nm

... automatiquement la reconstruction 3D, le module de visualisation 3D permet de visualiser l’image sur une variété d’axes. Le contrôle nanométrique X / Y piézo complètera une configuration ...