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Poids: 17 kg
Longueur: 490 mm
Largeur: 251 mm
Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...
Nikon Metrology
Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg
La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...
Nikon Metrology
Poids: 45 kg
La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...
Nikon Metrology
Poids: 8,7 kg
Longueur: 362 mm
Largeur: 251 mm
... Grâce à sa conception modulaire, le microscope universel permet d’utiliser des techniques de contraste optique complémentaires sur un seul support de microscope. Nikon ECLIPSE LV150NA et LV150N Ces ...
Nikon Metrology
Poids: 8,6 kg
Longueur: 362 mm
Largeur: 251 mm
... Grâce à sa conception modulaire, le microscope universel permet d’utiliser des techniques de contraste optique complémentaires sur un seul support de microscope. Nikon ECLIPSE LV150NA et LV150N Ces ...
Nikon Metrology
Poids: 9,5 kg
Longueur: 613 mm
Largeur: 251 mm
... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...
Nikon Metrology
Poids: 9,5 kg
Longueur: 657 mm
Largeur: 251 mm
... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...
Nikon Metrology
microscope optiqueEclipse Ci-POL
Grossissement: 5 unit - 100 unit
Poids: 14 kg
Longueur: 271 mm
Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...
Nikon Metrology
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