Microscope SEM ZEISS GeminiSEM

pour la rechercheindustrielà fort contraste

ZEISS GeminiSEM est synonyme d'imagerie sans difficultés à une résolution sub-nanométrique. Ces FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ) excellent tant dans l'imagerie que dans l'analyse. Des innovations dans l'optique électronique et une nouvelle conception de la chambre vous offrent une meilleure qualité d'image, une plus grande facilité d'utilisation et une flexibilité accrue. Prenez des images sub-nanométriques sous 1 kV sans lentille d'immersion. Découvrez trois conceptions uniques de l'optique électronique ZEISS Gemini. Idéal pour les plateformes d'imagerie - ZEISS GeminiSEM 360 Découvrez l'analyse efficace - ZEISS GeminiSEM 460 Nouvelle norme pour l'imagerie surfacique – ZEISS GeminiSEM 560 Bénéficiez d'une imagerie sensible aux surfaces et collectez des informations à basse tension ou à un courant de sonde élevé. Découvrez les avantages de la détection Inlens, de NanoVP, de la visualisation contextuelle des images ou de la segmentation pilotée par IA.​ Passez sans difficultés d'une tâche à faible courant et faible kV à une tâche à fort courant et fort kV. Élargissez vos possibilités grâce à un laboratoire in situ de chauffage et de traction. Bénéficiez des avantages d'une configuration EDS/EBSD coplanaire, de cartographies sans ombre des données EDS et de la collecte rapide de cartes EBSD avec 4000 motifs/s. Découvrez la nouvelle référence de l'imagerie surfacique : imagerie sans champ magnétique à une résolution inférieure à 1 nm et en dessous de 1 kV, aucun problème de polarisation de l'échantillon ou de monochromation