Microscope SEM ZEISS Sigma​
pour analysed'inspectionpour matériaux

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Caractéristiques

Type
SEM
Applications
pour analyse, d'inspection, pour matériaux
Autres caractéristiques
haute résolution, automatisé

Description

Procurant des résultats précis et reproductibles, la colonne Gemini ZEISS Sigma combine l'imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée. Fiable, précise et efficace, cette colonne est appréciée pour sa détection modulaire pour des images nettes et permet d’automatiser et accélérer le flux de travail. Elle donne la possibilité de choisissez parmi plusieurs détecteurs optionnels permettant d’imager des particules, des surfaces et des nanostructures. Cette colonne Gemini est proposée avec le logiciel ZEISS Atlas 5 qui sert à maîtriser l'imagerie multi-échelle ainsi qu’une solution avancée d'analyse et de visualisation pour de données 3D.

Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.