Microscope à rayons X ZEISS XRADIA Context microCT

pour analysepour composants électroniques3D

Xradia Context® de ZEISS est un système de tomographie par microcalcul (microCT) simple d'utilisation pour analyser tous types d'échantillons. Un détecteur de haute densité permet de visualiser en haute résolution les détails les plus fins, même dans des volumes d'imagerie relativement importants. Le système est doté d'un large champ d'observation, d'une fonction de montage et d'alignement rapide des échantillons et d'un processus d'acquisition simplifié. Il offre des temps d'exposition et de reconstruction des données rapides. Obtenez des données 3D sur des composants électroniques entiers intacts, de grands échantillons de matières premières ou des échantillons biologiques. Effectuez une analyse non destructive des défaillances pour identifier les défauts internes sans couper votre échantillon ou votre pièce. Caractérisez et quantifiez les hétérogénéités déterminantes pour la performance dans vos échantillons géologiques, telles que la porosité, les fissures, les inclusions, les défauts ou les phases multiples. Réalisez des études d'évolution 4D, par traitement ex situ ou par manipulation d'échantillons in situ. Connectez-vous à l'environnement de microscopie corrélative ZEISS et effectuez une imagerie 3D non destructive pour identifier les régions d'intérêt en vue d'une analyse ultérieure. Imagerie 3D avec contexte global Xradia Context est synonyme de qualité d'image, stabilité et facilité d'utilisation. Il propose un environnement de processus performant, ainsi qu'un balayage à haut rendement. Un détecteur de haute densité de six mégapixels vous permet de résoudre les détails les plus fins dans leur contexte 3D complet,