Spectromètre EDXRF Nova

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Spectromètres de laboratoire EDXRF avec objectifs secondaires Les spectromètres à fluorescence de rayons X à dispersion d'énergie (EDXRF) du laboratoire de Xenemetrix offrent la solution non destructive ultime dans les applications d'analyse élémentaire. Le détecteur de dérive du silicium (SDD) fournit simultanément un bruit électronique plus faible et un taux de comptage plus élevé, ce qui se traduit par une résolution énergétique plus élevée et des résultats plus rapides par rapport au détecteur Si-PIN. Huit cibles secondaires dans le modèle Nova offrent une sensibilité maximale pour une quantification rapide et précise, même dans des matrices complexes telles que des échantillons d'alliage, de plastique et géologiques. Les cibles sont entièrement personnalisables pour atteindre des limites de détection inférieures au ppm dans une grande variété d'éléments. Les spectromètres de laboratoire polyvalents peuvent analyser des liquides, des solides, des boues, des poudres, des granulés et des filtres à air, tandis que la chambre d'analyse peut accueillir des échantillons de différentes formes et tailles. La conception intégrale du passeur d'échantillons à 10 positions permet une intervention humaine minimale tout en permettant un chargement automatique et un fonctionnement sans surveillance. Ce spectromètre rapide, précis et facile à utiliser est équipé d'un matériel robuste et d'un logiciel d'analyse puissant pour atteindre de faibles limites de détection. La résolution d'acquisition multicanaux offre un rapport crête/arrière-plan supérieur pour une meilleure réponse du détecteur. Analyse élémentaire non destructive C(6)-Fm(100) des concentrations de sous-ppm à 100 %. Une puissance de tube allant jusqu'à 300 W combinée à une technologie brevetée WAG ® (Wide Angle Geometry) créent un instrument puissant dont tout laboratoire ne peut que rêver. Facile à utiliser grâce au logiciel propriétaire Analytix.