Spectromètre EDXRF X-Cite

pour l'industrie métallurgiquecompactde paillasse

Spécifications du système : Analyse élémentaire non destructive C(6)-Fm(100) des concentrations de PPM à 100 %. Six filtres personnalisables pour une détermination rapide et précise des éléments traces et mineurs. Résolution jusqu'à 125eV. Conception robuste, géométrie compacte. Plateau à échantillons avec 8/16 positions. Facile à utiliser grâce au logiciel propriétaire nEXt™. Le spectromètre à fluorescence de rayons X à dispersion d'énergie X-Cite (EDXRF) de Xenemetrix offre le rapport prix/performance le plus pratique du marché pour l'analyse élémentaire. Le spectromètre compact s'installe facilement sur une table de laboratoire traditionnelle et comprend un système informatique entièrement intégré. Sa conception et sa construction robustes en font un instrument idéal pour un laboratoire mobile. La X-Cite de Xenemetrix utilise un détecteur haute résolution et un puissant tube à rayons X avec des tailles de spots variables pour accueillir des échantillons de tailles diverses. L'analyseur permet une détermination qualitative et quantitative non destructive du C(6)-Fm(100). Le résultat final est un produit exceptionnel, capable de fournir des résultats analytiques puissants aujourd'hui et dans le futur. Cette approche est particulièrement utile dans les applications où des quantités limitées d'échantillons sont disponibles ou lorsque l'intégrité de l'échantillon doit être préservée à d'autres fins. Cette unité innovante surpasse les systèmes traditionnels sans les coûts et les difficultés associés au refroidissement à l'azote liquide. Des capacités de calcul complètes sont intégrées dans la conception du système pour une analyse et un transfert de données complets.