Spectromètre EDXRF Genius IF

pour l'industrie métallurgiqueéconomiquede paillasse

Spectromètre EDXRF de banc avec objectifs secondaires Le spectromètre Genius IF (cibles secondaires) EDXRF de Xenemetrix offre une solution rentable sur le marché actuel de l'analyse élémentaire. L'analyseur permet une détermination qualitative et quantitative non destructive du carbone (6) au fer (100), en fournissant des limites de détection allant de concentrations inférieures à la ppm à des pourcentages en poids élevés. La FI du Génie a de puissants composants, notamment : Un système informatique entièrement intégré Un détecteur de dérive de diapositives à haute résolution Un puissant tube à rayons X avec des spots de taille variable, conçu pour accueillir des échantillons de tailles diverses Huit cibles secondaires et huit filtres tubulaires personnalisables pour une détermination rapide et précise des éléments traces et mineurs Genius IF peut également fonctionner en mode d'excitation directe classique. Détecteur de dérive du silicium (SDD) : le détecteur de dérive du silicium permet d'obtenir des taux de comptage élevés, une meilleure résolution, jusqu'à 125eV et un temps de réponse rapide, afin de minimiser les temps d'arrêt opérationnels. SDD LE- Ultra - La fenêtre ultra-mince du détecteur offre des performances supérieures pour l'analyse des éléments à faible Z. Cibles secondaires : Le Genius IF possède une géométrie unique brevetée combinant huit cibles secondaires, avec huit filtres à tubes personnalisables utilisés en mode d'excitation directe, pour permettre une excitation optimale de tous les éléments pouvant être détectés dans l'EDXRF. La technique de cible secondaire brevetée WAG (Wide Angle Geometry) fournit les meilleurs résultats pour l'analyse des éléments majeurs, mineurs et traces.