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Chambre d'essai thermostatique de températurede vieillissementà basse température
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Caractéristiques
- Type
- thermostatique
- Paramètre contrôlé
- de température
- Type de tests
- de vieillissement
- Autres caractéristiques
- à basse température, à haute température
Description
Mémoire à semi-conducteurs à haute et basse température
Recherche et conception indépendantes d'une plateforme matérielle et d'un système logiciel pour le test des modules de mémoire, supportant entièrement le test de vieillissement à pleine vitesse de NOR Flash, NAND Flash, eMMC, UFS
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Semiconductor
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.