Caractéristiques
-La combinaison parfaite de systèmes matériels et logiciels répond aux besoins des universitaires et des chercheurs dans différents domaines d'application
-Le système de mesure de l'angle de diffraction de haute précision permet d'obtenir des résultats plus précis
-La stabilité élevée du système de contrôle du générateur de rayons X permet d'obtenir une précision de répétabilité plus stable
-Fonctionnement programmable, conception de structure intégrée, fonctionnement facile, aspect élégant
La diffraction des rayons X (XRD) est un instrument de test polyvalent permettant de révéler la structure cristalline et les informations chimiques :
-Échantillons inconnus dans une variété d'identification de phase
-Echantillons mélangés avec une analyse quantitative de phase connue
-Analyse de la structure cristalline
-Modifications de la structure cristalline dans des conditions non conventionnelles (haute température, basse température)
-Analyse des films de surface des matériaux
-Analyse de la texture et des contraintes des matériaux métalliques
Paramètres techniques
Puissance nominale : 3kW Tension du tube : 10-60kV Courant du tube : 5-80mA
Tubes à rayons X : tubes en verre, tubes en céramique, tubes en céramique ondulée : Cu, Fe, Co, Cr, Mo etc., Puissance 2kW Taille du foyer : 1 x 10mm ou 0,4 x 14mm ou 2 x 12mm Stabilité : 0,01%
Structure du goniomètre : Horizontale (8-2 8)
Rayon de diffraction : 185mm Plage de balayage : 0-164 Vitesse de balayage : 0.0012°- 70cmin Vitesse de rotation maximale : 1007min
Mode de balayage : 8-28 linkage, 8. 28 simple action ; balayage continu ou pas à pas Précision de répétition de l'angle : 1/1000
Angle de pas minimal : 1/1000°
Détecteur compteurs proportionnels (PC) : ou compteurs à scintillation (SC)
Taux de comptage maximal de linéarité : 5x105 CPS (avec la fonction de compensation du comptage des pertes) Rapport de résolution énergétique : 25 % (PC). 50% (SC)
Mode de comptage : coefficient différentiel ou intégral, PHA automatique, régulation du temps mort
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