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Système de mesure de dimension critique IRIS
infrarougepar camérapour semi-conducteur

Système de mesure de dimension critique - IRIS - TZTEK Technology Co.,ltd - infrarouge / par caméra / pour semi-conducteur
Système de mesure de dimension critique - IRIS - TZTEK Technology Co.,ltd - infrarouge / par caméra / pour semi-conducteur
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Caractéristiques

Grandeur physique
de dimension critique
Technologie
par caméra, infrarouge
Produit mesuré
pour semi-conducteur

Description

Le système infrarouge de TZTEK occupe une position de leader au niveau mondial. Le système combine une caméra infrarouge haute performance avec une optique infrarouge optimisée pour générer des images d'une résolution et d'un contraste excellents.mesure efficace des caractéristiques sur le dessus, le dessous et l'intérieur du substrat. caractéristiques principales -Système optique infrarouge optimisé, longueur d'onde de la lumière infrarouge jusqu'à 1500 nm -Disponible pour des solutions de manipulation personnalisées -Combinaison d'éclairage visible et infrarouge en modes réfléchi et transmis -SECS/GEM

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.