Système de tri automatique

pour wafersd'inspection de surfaceà grande vitesse

L'équipement de détection et de tri des plaquettes de silicium photovoltaïques peut tester de manière exhaustive la qualité des plaquettes de silicium photovoltaïques, ce qui en fait un équipement clé pour la fabrication des plaquettes de silicium photovoltaïques. L'équipement de détection et de tri des plaquettes de silicium photovoltaïque développé par TZTEK, qui intègre plus de 10 ans de technologie et d'expérience en matière de vision industrielle, réalise en une seule étape, à grande vitesse, une détection et un tri complets des dimensions, des marques de lignes, des déformations, des cassures, des défauts de surface, des fissures latentes, des propriétés électriques et d'autres caractéristiques des plaquettes de silicium monocristallines, polycristallines et noires en incorporant un algorithme d'apprentissage profond. Plus précisément, il effectue la reconnaissance et l'extraction avec une grande efficacité et un taux de reconnaissance élevé des caractéristiques des défauts dans les plaquettes de silicium, et intègre quatre processus majeurs dans le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium, y compris l'alimentation, la détection complète, l'analyse des données, et le découpage et le tri, dans un système automatique intelligent, afin de répondre à vos exigences de tri et de détection des plaquettes de silicium et des produits similaires dans le secteur des nouvelles énergies. "Dommage "0 Sans contact avec un dommage "0" Support des données collecte et téléchargement automatiques des données d'inspection et de tri en temps réel Faible coût Moins d'investissement en main-d'œuvre, moins de coûts totaux de tri et d'essai