Mesureur d'épaisseur stationnaire OptiSurf®

pour lentilles optiquesavec calibrage automatique

«  OptiSurf® est l'outil idéal pour l'épaisseur et les mesures centrales de non contact d'entrefer des lentilles simples, optique plate et dans les systèmes optiques. L'instrument est basé sur la basses interférométrie et mesures de cohérence toutes les distances extérieures dans un système optique avec une exactitude jusqu'à 0,15 μm dans un balayage. En particulier, l'alignement de l'échantillon en ce qui concerne l'axe de mesure a été considérablement simplifié comparé aux systèmes conventionnels : un outil d'alignement innovateur ainsi que le support réglable témoin et le logiciel permet même aux opérateurs inexpérimentés exactement d'aligner et mesurer des lentilles et des systèmes optiques. Cette innovation qui économise qualifie OptiSurf® pour l'usage dans la production. OptiSurf® IR est le seul système sur le marché qui est capable pour mesurer tous les matériaux infrarouges de lentille. Comme mise à jour d'un système d'OptiCentric® IR c'est un supplément parfait pour les procédés de système optique de haute précision des lentilles d'IR. Fonctionnalités clé Exactitude de mesure de 0,15 µm pour l'épaisseur et les entrefers centraux (OptiSurf® UltraPrecision) Mesure dans UV, la FORCE et l'IR (selon la version) Entrée facile des données d'échantillon Importation de conception de lentille des dossiers de dossiers de Zemax ou de conception d'OptiCentric® Analyse statistique des résultats de mesure Identification automatique des surfaces de lentille et calcul des distances entre les surfaces Outil logiciel pour l'alignement rapide et facile d'échantillon Measurement de non contact \ /html »