Spectromètre de photoélectrons rayons X Nexsa G2 XPS

d'acquisition de donnéesautomatisé

Spectromètre photoélectronique à rayons X avec analyse de surface automatisée et capacités multitechniques. Spectroscopie de photoélectrons X Le système Thermo Scientific Nexsa G2 de spectrométrie photoélectronique à rayons X (XPS) offre une analyse de surface entièrement automatisée et à haut débit, fournissant les données nécessaires pour faire progresser la recherche et le développement ou pour résoudre les problèmes de production. L'intégration du XPS à la spectroscopie de diffusion ionique (ISS), à la spectroscopie photoélectronique UV (UPS), à la spectroscopie de perte d'énergie des électrons réfléchis (REELS) et à la spectroscopie Raman vous permet de réaliser une véritable analyse corrélative. Le système comprend désormais des options pour le chauffage et la polarisation des échantillons afin d'élargir la gamme d'expériences possibles. Le système d'analyse de surface Nexsa G2 ouvre la voie à des avancées dans les domaines de la science des matériaux, de la microélectronique, du développement des nanotechnologies et de nombreuses autres applications. Source de rayons X haute performance Un nouveau monochromateur de rayons X de faible puissance permet de sélectionner la zone d'analyse de 10 µm à 400 µm par pas de 5 µm, ce qui garantit que les données sont collectées à partir de la caractéristique d'intérêt tout en maximisant le signal. Optique électronique optimisée La lentille électronique à haute efficacité, l'analyseur hémisphérique et le détecteur permettent une excellente détectabilité et une acquisition rapide des données. Visualisation de l'échantillon Mettez en évidence les caractéristiques de l'échantillon grâce au système de visualisation optique breveté du système Nexsa XPS et à la carte XPS SnapMap, qui vous aide à repérer rapidement les zones d'intérêt à l'aide d'une image XPS entièrement focalisée.