Spectromètre de photoélectrons rayons X K-Alpha XPS
pour l'optiqued'acquisition de donnéesalpha

Spectromètre de photoélectrons rayons X - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - pour l'optique / d'acquisition de données / alpha
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Caractéristiques

Type
de photoélectrons rayons X
Domaine
pour l'optique, d'acquisition de données
Autres caractéristiques
à haute vitesse, alpha
Longueur d'onde

Min: 50 µm

Max: 400 µm

Description

Spectromètre photoélectronique à rayons X pour l'analyse de surface à haute performance. Spectromètre photoélectronique à rayons X K-Alpha Le système de spectromètre photoélectronique à rayons X (XPS) Thermo Scientific K-Alpha apporte une nouvelle approche à l'analyse des surfaces. Axé sur l'obtention de résultats de haute qualité grâce à un flux de travail rationalisé, le système K-Alpha XPS rend l'utilisation du XPS simple et intuitive, sans aucun sacrifice en termes de performances ou de capacités. Des performances de pointe, un coût de propriété réduit, une facilité d'utilisation accrue et un débit d'échantillons élevé font du système K-Alpha XPS l'outil idéal pour un environnement multi-utilisateurs. Le système K-Alpha XPS permet à un plus grand nombre de chercheurs dans le monde d'accéder à l'analyse de surface. Caractéristiques du spectromètre photoélectronique à rayons X K-Alpha Source de rayons X haute performance Le monochromateur de rayons X permet de sélectionner la zone d'analyse de 50 µm à 400 µm par pas de 5 µm, en l'adaptant à la caractéristique d'intérêt pour maximiser le signal. Optique électronique optimisée La lentille électronique à haute efficacité, l'analyseur hémisphérique et le détecteur permettent une excellente détectabilité et une acquisition rapide des données. Visualisation de l'échantillon Les caractéristiques de l'échantillon sont mises en évidence grâce au système de visualisation optique breveté du système K-Alpha XPS et à la carte XPS SnapMap, qui vous aide à repérer rapidement les zones d'intérêt. Analyse des isolants La source d'inondation brevetée à double faisceau couple des faisceaux d'ions de faible énergie avec des électrons de très faible énergie (moins de 1 eV) pour empêcher la charge de l'échantillon pendant l'analyse, ce qui élimine, dans la plupart des cas, la nécessité d'un référencement de la charge. Profilage en profondeur Allez au-delà de la surface avec la source d'ions EX06. L'optimisation automatisée de la source et la manipulation des gaz garantissent d'excellentes performances et une reproductibilité expérimentale.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.