Microscope TEM Spectra 300

pour la recherche en matériauxpour semi-conducteurhaute résolution

Microscope TEM et STEM haute résolution pour toutes les applications de la science des matériaux et des semi-conducteurs. Pour que les scientifiques puissent progresser dans leur compréhension des échantillons complexes et développer des matériaux innovants, ils doivent avoir accès à une instrumentation robuste et précise capable de corréler forme et fonction, ainsi que de résoudre l'espace, le temps et la fréquence. Thermo Fisher Scientific présente le Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM - le microscope électronique à transmission à balayage à haute résolution, à aberration corrigée, pour toutes les applications de la science des matériaux. Avantages du microscope électronique à transmission Spectra 300 Tous les Spectra 300 (S)TEM sont livrés sur de nouvelles plates-formes conçues pour offrir un niveau sans précédent de stabilité mécanique et une qualité d'image optimale grâce à une isolation vibratoire passive et (en option) active. Le système est logé dans un boîtier entièrement redessiné avec un affichage à l'écran intégré pour faciliter le chargement et le retrait des échantillons. Pour la première fois, une modularité et une évolutivité complètes peuvent être proposées entre des configurations non corrigées et des configurations à correction unique avec des hauteurs variables, ce qui permet une flexibilité maximale pour différentes configurations de salles. Le Spectra 300 (S)TEM peut être équipé en option d'un canon à émission de champ extrême (X-FEG)/Mono à haute résolution énergétique ou d'un X-FEG/UltiMono à ultra-haute résolution énergétique. Les monochromateurs des deux sources sont automatiquement excités et réglés en un seul clic pour obtenir la plus haute résolution énergétique possible sur chaque configuration en utilisant respectivement OptiMono ou OptiMono+ (voir vidéo ci-dessous).