Microscope SEM Phenom ParticleX TC

pour analysemultiusagede bureau

Analyse de la propreté des composants avec un MEB de bureau polyvalent. MEB de bureau pour l'analyse de la propreté des composants Le MEB de bureau Phenom ParticleX TC de Thermo Scientific est un MEB de bureau polyvalent permettant la propreté technique à l'échelle microscopique. Caractérisation des matériaux Solution polyvalente pour des analyses internes de haute qualité, le MEB de bureau Phenom ParticleX vous permet d'effectuer rapidement la caractérisation, la vérification et la classification des matériaux, et de soutenir votre production avec des données rapides, précises et fiables. Le système est simple à utiliser et rapide à apprendre, ouvrant l'analyse des particules et des matériaux à un plus grand nombre d'utilisateurs. Caractéristiques principales Propreté technique Avec la demande croissante d'analyse de particules plus petites au-delà de la portée de la microscopie optique dans les industries (automobiles), le MEB de bureau Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) permet la microscopie électronique à balayage automatisée avec spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie (EDS). Il s'agit d'un avantage majeur par rapport à la microscopie optique, car il permet la classification chimique des particules, ce qui donne une idée précise de vos processus de production et/ou de vos environnements. Des rapports standard conformes aux normes VDA 19 / ISO 16232 ou ISO 4406/4407 sont disponibles. Détecteur d'électrons secondaires Un détecteur d'électrons secondaires (SED) est disponible en option sur le MEB de bureau Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness). Le SED collecte les électrons de faible énergie de la couche superficielle de l'échantillon. C'est donc le choix idéal pour révéler des informations détaillées sur la surface de l'échantillon. Le SED peut être d'une grande utilité pour les applications où la topographie et la morphologie sont importantes.