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Microscope FIB/SEM AMBERpour analysepour la recherche en matériauxde haute précision
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Caractéristiques
- Type
- FIB/SEM
- Applications
- pour analyse, pour la recherche en matériaux
- Autres caractéristiques
- de haute précision, ultra haute résolution
Description
Le MEB-FIB nanoanalytique polyvalent pour étendre vos capacités de recherche sur les matériaux
- Préparation de micro-échantillons de haute précision
- Imagerie et nanoanalyse MEB sans champ à ultra-haute résolution
- Un champ de vision étendu et une navigation facile
- Automatisation des processus multi-sites
- Tomographie FIB-SEM multimodale
- Interface utilisateur du logiciel modulaire facile à utiliser
- Des formules optionnelles attrayantes pour diverses applications
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Catalogues
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.