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Microscope FIB/SEM AMBER Xpour analysein-lens SEmodulaire
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Caractéristiques
- Type
- FIB/SEM
- Applications
- pour analyse
- Type de détecteur
- in-lens SE
- Autres caractéristiques
- modulaire, ultra haute résolution
Description
Une combinaison unique de FIB plasma et de MEB UHR sans champ pour la caractérisation des matériaux à plusieurs échelles
- Traitement FIB à haut débit et grande surface jusqu'à 1 mm
- Préparation de micro-échantillons sans Ga
- Imagerie et analyse FEG-SEM à ultra-haute résolution et sans champ
- Détection des SE et de l'ESB dans l'objectif
- Optimisation de la résolution pour la tomographie FIB-SEM à haut débit et multimodale
- Champ de vision supérieur pour une navigation facile
- Essence™ interface graphique modulaire et facile à utiliser
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Catalogues
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.