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Microscope SEM MAGNA
de métrologiede paillassehaute résolution

Microscope SEM - MAGNA - Tescan GmbH - de métrologie / de paillasse / haute résolution
Microscope SEM - MAGNA - Tescan GmbH - de métrologie / de paillasse / haute résolution
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Caractéristiques

Type
SEM
Applications
de métrologie
Configuration
de paillasse
Autres caractéristiques
haute résolution, à fort contraste

Description

UHR SEM pour la caractérisation des nanomatériaux à l'échelle sub-nanométrique - Imagerie à haute résolution et à fort contraste des matériaux de la prochaine génération (par exemple, structures de catalyseurs, nanotubes, nanoparticules et autres structures à l'échelle nanométrique) - Excellente plate-forme adaptée à la métrologie MEB/MST à l'échelle sub-nanométrique - Mise en place rapide du faisceau d'électrons - des conditions d'imagerie optimales sont garanties par le faisceau en vol Tracing™ - Système multi-détecteur TriBE™ et TriSE™ pour la nanocaractérisation des échantillons - Plate-forme logicielle modulaire intuitive conçue pour un fonctionnement sans effort, quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

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