Microscope SEM VEGA

pour analysepour la recherched'inspection

Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4ème génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse de la composition des éléments vivants dans une seule fenêtre du logiciel Essence™ de TESCAN VEGA. Cette combinaison simplifie considérablement l'acquisition des données morphologiques et élémentaires de l'échantillon, faisant du MEB VEGA une solution analytique efficace pour l'inspection de routine des matériaux dans les laboratoires de contrôle de la qualité, d'analyse des défaillances et de recherche. - Plate-forme analytique comprenant le logiciel TESCAN Essence™ EDS entièrement intégré, qui combine efficacement l'imagerie MEB et l'analyse de la composition élémentaire dans une seule fenêtre du logiciel Essence™. - Des conditions d'imagerie et d'analyse optimales immédiatement disponibles grâce à la conception optique sans ouverture unique de TESCAN, alimentée par le faisceau en vol Tracing™. - Navigation MEB précise et sans effort sur l'échantillon à des grossissements aussi faibles que 2× sans avoir besoin d'une caméra de navigation optique supplémentaire grâce à la conception Wide Field unique de Optics™. - Le mode SingleVac™ est une fonction standard pour l'observation des échantillons sensibles à la charge et au faisceau. - Logiciel Essence™ intuitif et modulaire conçu pour une utilisation sans effort, quel que soit le niveau d'expérience de l'utilisateur. - La sécurité ultime des détecteurs montés sur la chambre lorsque la scène et l'échantillon sont en mouvement est garantie avec le modèle de collision 3D de Essence™. - Le tampon à vide optionnel réduit considérablement la durée de fonctionnement de la pompe à vide rotative pour offrir des avantages à la fois écologiques et économiques. - La plate-forme analytique modulaire qui peut être équipée en option de la plus vaste sélection de détecteurs entièrement intégrés (par exemple, CL, spectromètre ESB refroidi à l'eau ou RAMAN).