Système de test de laboratoire S530

pour semiconducteurscompacthaute tension

BEAVERTON, Ore, , Sept. 16, 2021 /PRNewswire/ -- Tektronix, Inc, l'un des principaux fournisseurs mondiaux de solutions de test et de mesure, a publié aujourd'hui le logiciel KTE V7.1 pour le système de test paramétrique de la série S530 de Keithley afin d'aider à accélérer la fabrication de puces à semi-conducteurs au moment même où le marché mondial en a le plus besoin. Les nouvelles options disponibles pour la première fois avec la version KTE V7.1 comprennent une nouvelle capacité de test parallèle et une option unique de test de capacité haute tension pour les applications émergentes de puissance et à large bande interdite. KTE V7.1 améliore les temps de test de plus de 10 % par rapport à KTE V5.8, ce qui signifie que les ingénieurs peuvent réduire les temps d'arrêt et fabriquer des puces plus rapidement. L'émergence de la 5G et la croissance de l'IoT ont alimenté la demande mondiale de semi-conducteurs. Les pénuries mondiales exigent non seulement une augmentation de la fabrication, mais aussi une capacité plus rapide à tester les nouvelles puces en cours de développement. La sortie de ce nouveau système de test par Tektronix peut aider à accélérer la fabrication en diminuant le temps de test et ainsi accélérer la livraison de nouvelles puces sur le marché. "Aujourd'hui, les technologies émergentes de semi-conducteurs analogiques, à large bande interdite (SiC et GaN) et de puissance nécessitent des tests paramétriques qui maximisent les performances de mesure, couvrent un large éventail de produits et minimisent les coûts ", explique Peter Griffiths, directeur général de Systems & Software chez Tektronix. "Nos clients, notamment les plus grands fabricants de puces au monde, apprécieront les améliorations de KTE V7.1 qui permettront aux ingénieurs de continuer à concevoir des innovations à un rythme sans précédent pour répondre aux demandes des marchés en évolution."