Pince de manutention de wafer

en PEEK

Taille : 4", 5", 6", 8", 12" et non standard. Outil portatif en PEEK, un outil pour l'inspection manuelle des wafers. Le PEEK ne contient pas d'éléments halogènes et ne contamine pas les wafers semi-conducteurs. 1. Résistance aux températures élevées : Avec une résistance à la chaleur allant jusqu'à 300°C, il peut conserver sa solidité et sa stabilité dimensionnelle aux températures élevées des processus de soudure sans plomb. À des températures de 250-280°C, il n'y a pas de déformation et la refusion se fait en 5-10 secondes ; 2. Résistance à l'usure : résistance mécanique et résistance à l'usure élevées ; 3. Stabilité dimensionnelle : Les matériaux d'apport réduisent le coefficient de dilatation thermique, augmentent la température de déformation thermique et assurent un contrôle dimensionnel strict ; 4. Faible dégazage : Réduit la contamination et améliore la fiabilité dans les applications où les accessoires sont soumis à des exigences de pureté (disques durs, boîtiers de plaquettes de silicium, etc.) ; 5. Faible hygroscopicité : Très important pour maintenir la stabilité dimensionnelle et les performances d'isolation. Les pinces à plaquettes en PEEK et les pinces à plaquettes en silicium peuvent être utilisées pendant une longue période à une température de 260°C. Ils peuvent conserver une grande résistance à des températures élevées, ont une bonne stabilité dimensionnelle et un faible coefficient de dilatation linéaire. En même temps, elles possèdent d'excellentes propriétés telles que la résistance à l'usure par glissement et à l'usure par frottement, ainsi qu'un faible coefficient de frottement. L'utilisation de pinces à plaquettes en PEEK pour serrer les plaquettes et les plaquettes de silicium permet d'éviter les rayures sur la surface des plaquettes et des plaquettes de silicium, ainsi que la production de résidus sur les plaquettes et les plaquettes de silicium en raison de la friction, ce qui améliore la propreté de la surface des plaquettes et des plaquettes de silicium.