Le module source Discovery Xenon Flash (DXF) utilise une source de diffusion haute vitesse des impulsions au xénon (HSXD) qui est considérablement moins coûteuse et qui nécessite beaucoup moins de maintenance qu’un laser, pour des résultats équivalents. Une configuration optique réfléchissante de notre conception exploite efficacement la puissance d’un tube éclair au xénon et, à l’aide de nos guides d’onde brevetés, la distribue à l’échantillon qui se trouve dans le Module environnemental. Le DXF produit une impulsion plus courte (de 400 à 600 μs) que beaucoup de systèmes laser du commerce, tout en concentrant uniformément suffisamment de puissance issue de la source éclair directement sur l’intégralité de la surface de l’échantillon. Grâce à sa disposition optique optimisée et au large spectre lumineux, des grands échantillons, dont la taille peut atteindre 25 mm de diamètre, peuvent être éclairés avec suffisamment d’énergie pour obtenir une mesure très précise. L’utilisation de grands échantillons diminue les erreurs associées à l’inhomogénéité et permet de procéder à des mesures représentatives sur des matériaux composites mal dispersés.
Le DXF couvre la plage de température la plus courante, de -150 à 900 °C. Il est adapté aux programmes de recherche et développement, ainsi qu’au contrôle de la production.