Portique XYZ pour l'inspection
Personnalisable
- Idéal pour l'inspection de haute précision de grandes pièces jusqu'à 450 x 1000 x 1000 mm
- Résolutions de l'ordre du nanomètre grâce à une rigidité exceptionnellement élevée
- Adaptation individuelle au microscope, à la caméra ou au capteur spécifique du client
- Débit élevé exceptionnel à des vitesses allant jusqu'à 2420 mm/s
- Peu d'entretien et fonctionnement flexible 24 heures sur 24, 7 jours sur 7, avec un palier à air sous des paramètres variables
Ce système de positionnement XYZ est adapté à la mesure de haute précision d'échantillons de grande taille et de grande hauteur, de plus de 450 x 1000 x 1000 mm. Un microscope, une caméra ou un capteur personnalisé peut être fixé à l'axe Z pour mesurer l'échantillon avec un mouvement aérien XYZ. Cela permet une imagerie à haute résolution dans le domaine du nanomètre ainsi que de nombreuses fonctions de mesure pour l'imagerie 2D et 3D.
Caractéristiques techniques :
- Course : 700 x 700 x 700 x 200 mm
- Etage Z pour têtes de traitement jusqu'à 15 kg
- Répétabilité : 0,3 - ± 0,4 µm
- Vitesse : 1210 - 2420 mm (XY) / 30 - 60 mm (Z)
- Charge max : 100 N (X) / 500 N (Y) / 150 N (Z)
- Entraînement : moteur linéaire (sans fer), coussin d'air (XY) | vis à billes, moteur DC, roulements à rouleaux croisés (Z)
- Rétroaction : échelle linéaire
- Contrôleur de mouvement : FMC-250/280, FMC-400/450, ACS, intégration PLC
Options personnalisées :
- Adaptation des courses, combinaison de longueurs, câblage et mouvement
- Personnalisation et intégration dans l'application globale spécifique au client
- Commande prête à l'emploi avec contrôleur préconfiguré et logiciel d'essai inclus
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