Materials Lab XM est un produit XM (Xtreme Measurement) spécifique à l'application qui est principalement axé sur la recherche sur les matériaux.
Le produit Materials Lab XM fournit un domaine temporel de référence entièrement intégré et une plate-forme de mesure AC. Il n'est pas nécessaire de commuter les connexions d'échantillons entre les techniques. Les mesures dans le domaine temporel comprennent la caractérisation I-V (tension de courant) ainsi que les techniques d'impulsions rapides. Les techniques de test AC comprennent tout, de l'analyse sinusoïdale unique à l'analyse multisinusoïdale / transformée de Fourier rapide pour une analyse plus rapide des basses fréquences, en passant par les harmoniques et l'intermodulation pour tester la linéarité et la répartition des matériaux. Les mesures de spectroscopie d'impédance électrique (EIS), d'admission, de permittivité et de capacité sont toutes fournies par la plate-forme logicielle XM-studio MTS, ainsi que les fonctionnalités d'analyse de circuits équivalents intégrées.
Les essais dans le domaine temporel et les essais en courant alternatif peuvent être combinés en séquences d'essai et commutés instantanément, ce qui permet d'activer les porteurs de charge sous forme de courant continu et d'impulsions, suivis immédiatement par l'analyse EIS des porteurs activés. Cette intégration étroitement liée n'est possible qu'avec le Materials Lab XM. Les mesures comprennent :
- I-V (balayages de tension avec mesure de courant - utilisés pour caractériser les matériaux électroniques et diélectriques)
- P-E (polarisation / champ électrique - utilisé pour réaliser des tests d'hystérésis pour caractériser les matériaux ferroélectriques)
- Impulsion à grande vitesse (utilisée pour activer les porteurs de charge dans les matériaux électroniques et diélectriques)
- Formes d'onde de rampe analogiques progressives lisses et sans à-coups en escalier
- Impédance, admittance, permittivité / capacité, module électrique
- C-V capacitance - tension, Mott-Schottky
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