Socket de test de rodage K Series H-Pin®

L'embase de la série K est conçue pour appliquer une pression plane et régulière sur l'objet sous essai à l'aide d'un levier secondaire une fois que le couvercle a été fermé. Cela permet de s'assurer que le plateau ne glisse pas sur le dessus de l'appareil lors de la fermeture du couvercle, ce qui risquerait de marquer l'appareil. Ceci est particulièrement important pour les produits à matrice exposée ou les applications automobiles où l'apparence fait partie des critères d'acceptation de réussite ou d'échec après l'essai. L'actionnement du levier vertical n'augmente pas l'encombrement de l'embase, ce qui permet d'obtenir la plus grande densité de sites peuplés sur la carte de déverminage et, dans certains cas, de réduire l'encombrement global par rapport à d'autres embases à couvercle à clapet. Un autre avantage du couvercle de la série K est la circulation de l'air à travers le socle grâce à son profil plus haut, ce qui permet d'avoir des canaux d'air plus larges pour aider à maintenir des températures précises. Caractéristiques et avantages - Conception éprouvée dans l'industrie, outillage, moulage et usinage en interne, avec assemblage 100 % automatisé. - Vaste catalogue de composants, options configurables - L'actionnement du couvercle sans marquage contribue à des rendements plus élevés. - Performances électriques à la pointe du marché Options - Plateau à pression verticale - Dissipateur de chaleur - Caractéristiques de ventilation HAST - Contrôle thermique intégré avec chauffage et capteur - Plan d'assise inversé - Dégagement maximal des composants sous l'objet testé - systèmes à 2 ou 3 plaques - Matériaux haute température pour les applications à plus de 200°C Technologie H-Pin Cette embase utilise également la technologie de contact H-Pin qui offre des capacités de performance RF étendues et des caractéristiques DC exceptionnelles. L'embase de la série K remplit toutes les conditions : haute fréquence, courant élevé, haute température, faible inductance et faible perte. Ces caractéristiques contribuent à réduire le coût des tests.