Socket de test QFN Kepler

manuel

Technologie de contact à frottement haute performance pour les circuits intégrés périphériques La technologie de contact Kepler combine le mouvement de frottement d'un contact en porte-à-faux avec la polyvalence et la modularité d'une sonde à ressort. La conception inclut un mouvement horizontal pendant la course descendante du dispositif pour éliminer les oxydes de surface, fournir un contact stable et fiable et ne pas endommager le circuit imprimé. Caractéristiques et avantages Caractéristiques techniques : -Pour tester les LGA, QFN, QFP et autres variantes -L'action de frottement élimine les oxydes de surface sur la pastille de l'appareil -Trajet de signal court -Conception de la prise Tri-Temp pour prendre en charge les températures de -55 °C à +150 °C -Flexibilité de conception configurable pour l'intégration dans des configurations matérielles existantes -Conçu pour les tests manuels, les tests sur banc et les tests de production HVM -Boîtier d'isolant en polyimide haute performance -Faible encombrement de l'embase Avantages : -Longue durée de vie du contact, faible usure, testé à plus de 500 000 insertions -Fournit un contact fiable et constant pour les pastilles en étain mat ou NiPdAu, faible Cres constant -Intégrité exceptionnelle du signal -Couvre une large gamme d'applications de test -S'adaptent à l'empreinte de l'embase du circuit imprimé existant et au matériel de test, ce qui permet aux clients de réaliser des économies -Réparable sur site, nettoyage et entretien faciles -Faible constante diélectrique, faible CLTE, module de flexion exceptionnel -Permet de placer les composants de la face supérieure du circuit imprimé à proximité de l'objet à tester pour une meilleure performance du signal et moins de perte de signal