Spectromètre EDX EDX 3000PLUS

à fluorescence Xd'inspectionpour l'analyse de métaux précieux

Le spectromètre de fluorescence X EDX3000 PLUS est l'instrument le plus avancé pour l'analyse des métaux précieux. Le détecteur SDD (Silicon Drift Detector) de nouvelle génération d'Amptek, le détecteur à fenêtre en béryllium et la technologie numérique multicanaux du EDX3000 PLUS permettent d'analyser avec précision les métaux précieux de toutes tailles et de toutes formes. L'or repose sur le poids, et l'instrument sur la précision. Les caractéristiques les plus évidentes de l'EDX 300OPlus sont la haute précision, la haute résolution et la caméra HD. L'utilisation intelligente d'une seule touche simplifie l'analyse de l'or, de l'argent, du platine, du palladium et d'autres métaux précieux. Les résultats des tests sont entièrement conformes aux exigences de la norme GB/T 18043-2000. Domaine d'application Usine métallurgique de métaux précieux Prêteur sur gages Récupération de métaux précieux Conception humanisée Plus sûr : Dispositif de sécurité intégré aux rayons X - l'obturateur interagit avec le verrouillage ; le boîtier est relié à la borne d'activation haute tension pour éviter les radiations. Caractéristiques de performance Technologie de détection la plus avancée - SDD (Silicon Drift Detector) d'Amptek, avec une résolution ultra-élevée jusqu'à 135eV. Avantage : grande zone de détection (25 mm²) ; réception de plus d'informations par unité de temps ; meilleur taux de comptage et meilleure résolution ; meilleure efficacité de détection des métaux précieux ; meilleur rapport signal/bruit et limite de détection plus basse. Technologie numérique multicanal Avantage : amélioration efficace de l'efficacité de sortie, réalisation d'un taux de comptage très élevé, garantie d'un taux de comptage effectif supérieur à 100K-CPS.