Spectromètre XRF EDX4500A
de laboratoirede mesurepour l'industrie métallurgique

Spectromètre XRF - EDX4500A - Skyray Instrument - de laboratoire / de mesure / pour l'industrie métallurgique
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Caractéristiques

Type
XRF
Domaine
de laboratoire, de mesure, pour l'industrie métallurgique, chimique, robotique, pour l'industrie pétrolière
Configuration
de paillasse
Type de détecteur
SDD
Autres caractéristiques
numérique, multicanaux

Description

Le bras robotique automatique à 23 positions permet de réaliser des tests simultanés à haut débit sur plusieurs éléments afin de répondre aux exigences des tests de laboratoire sur les éléments inorganiques dans diverses industries. Jusqu'à 80 éléments chimiques peuvent être mesurés, le XRF répond aux besoins d'analyse des éléments inorganiques dans les laboratoires de diverses industries. Le spectromètre de fluorescence X est un instrument d'analyse non destructif rapide, précis et très efficace de divers éléments, basé sur le principe de détection XRF selon lequel les rayons X de la source excitent les échantillons et génèrent des rayons X fluorescents caractéristiques pour la mesure. La principale caractéristique de l'instrument est sa grande capacité à exciter les éléments légers Na, Mg, Ai, Si, P et S à l'aide d'un système de vide intelligent. Grâce à la technologie XRF, les éléments à haute teneur en K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Mo, Zr, Ba et autres éléments clés d'intérêt seront analysés avec précision. Il améliorera considérablement l'efficacité de la détection et réduira le coût de l'analyse en tant que machine de contrôle de la qualité des produits inégalée dans les entreprises de production de minéraux, de traitement des métaux et de matériaux non métalliques inorganiques. En même temps, le bras robotique automatique à 23 positions permet d'effectuer des tests séquentiels simultanés d'échantillons à haut débit, ce qui permet d'effectuer des tests sans surveillance à l'aide d'un seul bouton après l'injection des échantillons. Caractéristiques de performance Tube à rayons X à fenêtre ultrafine à haute efficacité, dont les performances atteignent le niveau international le plus élevé Technologie numérique multicanaux de pointe avec un taux de comptage de 100 000CPS, permettant de tester les alliages plus rapidement, avec une plus grande précision et un meilleur effet Détecteur de dérive au silicium SDD, caractérisé par une bonne linéarité de l'énergie, une bonne résolution de l'énergie et de bonnes caractéristiques spectrales, ainsi que par un rapport crête-retour élevé

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.