Spectromètre XRF EDX6000C
EDXde laboratoirepour l'optique

Spectromètre XRF - EDX6000C - Skyray Instrument - EDX / de laboratoire / pour l'optique
Spectromètre XRF - EDX6000C - Skyray Instrument - EDX / de laboratoire / pour l'optique
Spectromètre XRF - EDX6000C - Skyray Instrument - EDX / de laboratoire / pour l'optique - image - 2
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Type
EDX, XRF
Domaine
de laboratoire, pour l'optique, automatique
Type de détecteur
SDD
Longueur

578 mm
(22,76 in)

Largeur

646 mm
(25,43 in)

Hauteur

388 mm
(15,28 in)

Description

S'appuyant sur les performances cumulées de plus de dizaines de milliers d'appareils d'analyse de dispersion d'énergie, Skyray Instrument a consacré une décennie à la création d'un analyseur de nouvelle génération, l'EDX6000C, qui intègre en un seul instrument divers besoins en matière d'essais. Cet instrument est équipé d'un détecteur SDD semi-conducteur à fenêtre ultrafine et à grande surface de graphène, refroidi électriquement, d'un chemin optique de test à très faibles pertes, d'une source lumineuse d'excitation à tube Oxford à fenêtre ultrafine en béryllium, d'une commande PLC Siemens pour les systèmes à chambre à échantillon unique et à chambres à échantillons multiples (avec des options pour 9, 12 et 20 chambres à échantillons), d'un système combiné de vide et d'hélium, d'un système de rotation des échantillons et d'un triple système de protection de sécurité pour l'instrument (fonction antiperforation du détecteur, protection de la clé à haute tension et fonction de verrouillage automatique du couvercle de l'échantillon). L'instrument combine de manière transparente les modes d'injection dans une chambre à échantillon unique et dans une chambre à échantillons multiples. Il est complété par la dernière réalisation de Skyray en matière de recherche, le logiciel d'analyse de composition XRF version 4.0 et le logiciel RoHS 5.0 version intelligente complète. Il permet de tester en un seul clic les échantillons liquides et solides. Ses puissants algorithmes intelligents peuvent identifier automatiquement les matériaux des échantillons et sélectionner la courbe appropriée, réalisant ainsi une véritable détection automatique intelligente pour les positions multi-échantillons. L'instrument offre de faibles coûts d'exploitation, une meilleure performance en matière de maintenance et une plus grande commodité. Il peut être utilisé dans un large éventail de domaines, de la gestion des produits soumis à des réglementations telles que les directives RoHS/ELV et les directives sur les jouets, à la recherche quotidienne en matière d'analyse générale des matériaux. Cela inclut l'analyse des éléments dans diverses industries,

---

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de Skyray Instrument

Autres produits Skyray Instrument

XRF

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.