Analyseur de gaz DF-745

de surveillanced'humiditéde trace

Le TDL DF-745 mesure l'humidité pour les contrôles de gaz UHP Grâce à la technologie de pointe du laser à diode accordable (TDL), le DF-745 permet de mesurer l'humidité à l'état de traces et d'ultra-traces pour les contrôles des gaz électroniques ultra-haute pureté (UHP) dans les processus de fabrication des LED/LCD. Mesures de traces et d'ultra-traces TDL flexibles Une solution sans compromis Maintenance simple et coûts continus réduits Le DF-745 permet de mesurer l'humidité à l'état de trace et d'ultra-trace dans les processus de fabrication des LED/LCD. Capable de contrôler plusieurs gaz de fond, il offre des performances exceptionnelles et une grande flexibilité opérationnelle dans une unité compacte. Grâce à une conception matérielle/logicielle intelligente et robuste, cet analyseur peut être déplacé facilement d'un port à l'autre, ce qui élimine pratiquement les temps d'arrêt à sec souvent associés à ces applications. Offrant une limite de détection inférieure (LDL) de 1 partie par milliard (ppb), le DF-745 fournit des mesures de base ultra-fiables et une vitesse de réponse rapide. Une cellule d'Herriott robuste empêche la perte de réflectivité du miroir, tandis que le contact de l'humidité avec les composants optiques est minimisé, ce qui garantit une mesure précise. La dérive zéro prolonge les intervalles d'étalonnage, tandis qu'une maintenance continue minimale permet d'obtenir des mesures précises Mesures flexibles de traces et d'ultra-traces TDL Les processus modernes de fabrication des écrans LCD et LED nécessitent une mesure de qualité ultra-trace pour les contaminants de l'humidité dans les gaz de qualité électronique de haute pureté. Dans une application aussi spécifique, les utilisateurs ont besoin d'une analyse capable de fournir une précision élevée et des limites de détection ultra-faibles dans plusieurs gaz de fond.