Système de test pour l'industrie électronique Compact Digital

Les innovations les plus récentes dans les composants numériques exigent un appareil de contrôle numérique plus sophistiqué comportant les capacités qui dépassent l'analyseur de logique simple. La fabrication industrielle exige des capacités de traitement au niveau de matériel d'accélérer des temps d'essai. En même temps, les nouvelles familles de logique, basées sur des niveaux de tension variables comportants et des signaux simples ou différentiels continuent à faire ces bien plus complexes. L'appareil de contrôle indiqué en tant que système de test compact de Digital (DTS) Next>series est réponse de Seica à la demande constante d'examiner les dispositifs intégrés par l'intermédiaire des techniques basées sur vecteur et les protocoles consacrés tels que le balayage de frontière, sans exclure la nécessité de combiner l'essai en circuit aussi bien. ATE Resources – les TCI et test de fonctionnalité Comme n'importe quelle autre solution de Seica, le système de test compact de DTS Next>series, utilise la plate-forme de VIP, dont la caractéristique principale est la possibilité pour fournir la meilleure intégration de la technologie et la facilité de l'utilisation, fournissant à l'utilisateur toutes les capacités exigées pour le test en circuit et de fonctionnalité sans nécessairement être un expert. C'est grâce possible au système de mesure tranchant (basé sur le module de propriété industrielle d'ACL) et au logiciel de gestion de VIVATS. Le premier, mis en application sur la technologie de DSP, intègre toutes les capacités de essai tout en permettant l'exécution plein-automatisée d'essai. D'ailleurs, la communication au PC principal par l'intermédiaire du câble de fibre optique réduit au minimum la sensibilité aux perturbations externes. Le second, conçu avec une logique simple et conviviale, fournit l'autonomie opérationnelle en termes de gestion-système et exécutions de essai de routines.