Testeur de fonctionnement Compact MULTI series

pour carte électroniquecompactanalogique

Cette configuration est recommandée pour les tests pré-fonctionnels, fonctionnels et combinatoires. La polyvalence et l’évolutivité du système de test Compact MULTI sont parfaitement adaptées pour l’intégration d’instruments extérieurs, de capacités et de techniques en un unique programme de test. Il est particulièrement adapté pour la mise en place de bancs de test fonctionnel pour les équipements et les cartes électroniques. L’encombrement réduit et la conformité aux critères de WCM permettent l’utilisation de plusieurs armoires à part, accordant ainsi la possibilité de mettre en place des bancs de test très complexes pour les différents secteurs de l’électronique. Le Compact Multi est particulièrement adapté pour : Le test fonctionnel Le test de fin de chaîne La programmation en ligne Les TIC Le test final automatique La mise en place de la séquence de test automatisée Caractéristiques : Bus et matrice analogiques (S64N, S64A, S64F) Bus et matrice d’alimentation (module HRELE) Bus numérique et canaux de cartes hybrides (P32) Jusqu’à 12 alimentations DC (APx, ALx) Instruments propriétaires intégrés sur le module ACL Instruments standards intégrés Programmeur universel en ligne (jusqu’à 8 en parallèle) Gestion des protocoles de communication (série, USB, CAN, LIN, K-line, GPIB, …) Séquence de test fonctionnel avec le système d’exploitation NI (Labview/Teststand) Séquence de tests in-situ et/ou fonctionnels avec le système d’exploitation VIVA de Seica Auto-test au niveau du module Récepteur avec ou sans contrastes supérieurs Interface connecteur ODU Gestion de lecture de code à barres et code 2D Collecte automatique de données statistiques