Microscope électronique FOCUS PEEM

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Microscopie sensible à la surface 20 nm Résolution latérale Spectroscopie locale k-Imagerie spatiale Facile à utiliser Compatible avec les systèmes MULTIPROBE UHV Un produit FOCUS La microscopie électronique à photo-émission (PEEM) est une technique d'imagerie extrêmement puissante, dont la polyvalence pour l'imagerie topographique, chimique et magnétique par contraste à haute résolution a été démontrée dans de nombreuses applications en laboratoire et au synchrotron. Les contributions importantes à la caractérisation des dispositifs magnétiques, la recherche sur les plasmons, la chimie de surface et l'analyse chimique à haute résolution latérale en combinaison avec le rayonnement synchrotron, l'étude des processus à résolution temporelle et l'imagerie dans l'espace K ne sont que quelques exemples de la recherche active du PEEM. Contrairement au microscope électronique à balayage (MEB), le MEBE reproduit directement en temps réel, sans balayage, les surfaces de surface émettant des photoélectrons L'émission d'électrons par les surfaces peut être provoquée de différentes manières - par excitation par irradiation photonique, thermiquement, par bombardement électron/ion ou par émission de champ. Au fil des ans, le FOCUS-PEEM a été continuellement amélioré en termes de performances et de convivialité. Le PEEM ainsi que l'étage d'échantillonnage intégré à haute stabilité (IS) et les différents filtres d'énergie disponibles suivent un concept modulaire facile à mettre à jour. De plus, l'utilisation assistée par logiciel garantit un fonctionnement rapide et sûr du PEEM, même sur des échantillons difficiles. Avec plus de 50 unités sur le marché, le FOCUS IS-PEEM est un puissant outil d'analyse de surface.