Microscope à balayage de sonde TESLA JT SPM

de laboratoirein-situde paillasse

> 5 jours de temps de mesure ininterrompu dans des champs magnétiques variables avec seulement 11 L LHe Températures jusqu'à 1 K avec 4He Très faible dérive thermique Champs magnétiques BZ > 3 T Accès optique STM et QPlus® AFM Conception ergonomique et extensible aux clusters Le TESLA JT SPM est un microscope Joule-Thompson refroidi à basse température fonctionnant sous ultra-vide pour une imagerie et une spectroscopie avancées développées par Scienta Omicron et CryoVac. Le cryostat contient un étage de refroidissement Joule-Thompson monté sous le cryostat de bain LHe avec des écrans refroidis par vapeur et une cuve LN2 environnante. Des expériences sans interruption pendant plus de quatre jours sont possibles grâce à la consommation exceptionnellement faible de LHe et LN2. La tête TESLA JT SPM dispose de plusieurs modes de mesure dont STM, NC-AFM (QPlus®) et différents modes de spectroscopie dont STS, IETS et force spec-troscopy. L'échange de pointes et d'échantillons in situ, y compris quatre contacts électriques sur la plaque d'échantillon, permet une gamme étendue de modes de mesure supplémentaires. Un aimant supraconducteur à paires séparées, développé par CryoVac, fournit des champs magnétiques jusqu'à BZ > 3T tout en permettant un accès optique à la pointe et à l'échantillon et une évaporation in-situ à basse température. Le nouveau TESLA JT SPM peut être combiné avec un transfert UHV vers les modules ARPES et MBE.