Système sous ultra vide poussé (UHV) pour microscope à balayage de sonde (SPM) MULTIPROBE P,XP,XA,RM

Les variantes consacrées de préparation témoin standard P, XP et RM sont travaillées pour adapter le système de MULTIPROBE S facilement, même pour une mise à niveau postérieure. Le système de MULTIPROBE LTS peut être amélioré avec la variante de XP ou de XA à tout moment. La solution puissante de XA est une combinaison d'une analyse et d'une chambre de préparation. Le MULTIPROBE P est un système de la science UHV de surface de duel-chambre avec une grande chambre d'analyse de multi-technique pour la microscopie de sonde de spectroscopie d'électron et de balayage d'UHV, et une chambre séparée de préparation témoin avec FEL. Les chambres de préparation dans le MULTIPROBE P offre les équipements de préparation témoin standard comme la croissance de la couche mince ou l'échantillon pulvérisant et chauffant. Le MULTIPROBE XP est un système de la science UHV de surface de duel-chambre avec une grande chambre d'analyse de multi-technique pour la microscopie de sonde de spectroscopie d'électron et de balayage d'UHV, et une chambre séparée de préparation témoin avec FEL. La chambre de préparation dans le MULTIPROBE XP offre la préparation prolongée témoin comprenant l'échantillon pulvérisant, chauffant et croissance de la couche mince avec la caractérisation in-situ par LEED ou RHEED dans le MULTIPROBE XP. Le MULTIPROBE RM est un système duel de la science UHV de surface de chambre avec une grande chambre d'analyse de multi-technique pour la microscopie de sonde de spectroscopie et de balayage d'électron, et une chambre séparée de MBE avec la monture LN2 de refroidissement idéalement adaptée à la recherche MBE et à la caractérisation in-situ de croissance de la couche mince avec RHEED