Système sous ultra vide poussé (UHV) pour microscope à balayage de sonde (SPM) MULTIPROBE S

système sous ultra vide poussé (UHV) pour microscope à balayage de sonde (SPM)
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Caractéristiques

Applications
pour microscope à balayage de sonde (SPM)

Description

Le MULTIPROBE S forme la base de la chaîne de MULTIPROBE et est la base pour les variantes plus grandes de MULTIPROBE P et de MULTIPROBE RM. Le MULTIPROBE S est un système simple de la science UHV de surface de chambre avec la grande chambre d'analyse de multi-technique pour la microscopie de sonde de spectroscopie d'électron, de balayage d'UHV et la préparation témoin. Un système de transfert d'échantillon facilite le transfert d'échantillon entre SPM, chambre d'analyse, et serrure rapide de charge témoin d'entrée (FEL).

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Catalogues

FOCUS PEEM
FOCUS PEEM
16 Pages
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.