Logiciel pour spectrophotomètre Total F+

de gestionstatistiqued'interface

Total Color F+, un logiciel de mesure spectrophotométrique, analyse et simule les couches minces optiques produites par revêtement sous vide pour vérifier la qualité des revêtements AR (Anti-Reflex) en interne. Un outil puissant pour améliorer l'efficacité du revêtement AR Total Color F+ est doté d'une interface facile à utiliser qui simplifie la gestion des mesures de couches minces. Effectuez facilement des contrôles de qualité réguliers et des rapports statistiques qui contribuent à réduire le temps d'installation des processus de revêtement, à maintenir les machines dans des conditions optimales et à assurer une qualité de revêtement optimale. Un logiciel facile à utiliser pour lire les données directement à partir de n'importe quel spectrophotomètre Capture des mesures de réflexion et de transmission absolues très précises Transforme les mesures absolues en coordonnées CIELAB pour une définition précise des couleurs Calcul de l'indice de réfraction, de l'épaisseur physique et du facteur d'outillage des couches individuelles Modifiez et créez des spécifications pour chaque revêtement avec l'éditeur de liste de revêtements Simulation manuelle des couches de revêtement Exigences du système : - PC avec Microsoft Windows 7, Windows 10 32/64bit O.S. Port série RS-232 (compatible UART 16550) pour connexion Perkin Elmer Port USB pour connexion MS-400-C*/MS-400-C UV Lecteur de CD-ROM (pour l'installation) Port USB pour la clé matérielle de protection des logiciels Imprimeur Spectrophotomètres pris en charge - MS-400-C*, MS-400-C-UV* Perkin Elmer Lambda 12, 20 et 25 * Instruments portables à fibres optiques