Diffractomètre à rayons X XtaLAB Synergy-ED

de laboratoireà cristal simple

DIFFRACTOMÈTRE ÉLECTRONIQUE ENTIÈREMENT INTÉGRÉ Un système dont l'utilisation est intuitive pour tout cristallographe à rayons X Le XtaLAB Synergy-ED est un nouveau diffractomètre électronique entièrement intégré, qui crée un flux de travail sans faille, de la collecte des données à la détermination de la structure des molécules tridimensionnelles. Le XtaLAB Synergy-ED est le résultat d'une collaboration innovante visant à combiner de manière synergique nos technologies de base : Le détecteur de comptage de photons haute vitesse et haute sensibilité de Rigaku (HyPix-ED) et la plateforme logicielle de pointe pour le contrôle des instruments et l'analyse des monocristaux (CrysAlisPro for ED), ainsi que l'expertise à long terme et le leadership du marché de JEOL dans la conception et la production de microscopes électroniques à transmission. La caractéristique principale de ce produit est qu'il fournit aux chercheurs une plateforme intégrée permettant un accès facile à la cristallographie électronique. Le XtaLAB Synergy-ED est un système que tout cristallographe à rayons X trouvera intuitif à utiliser sans avoir à devenir un expert en microscopie électronique. Le XtaLAB Synergy-ED a été conçu pour répondre au besoin croissant d'étudier des échantillons de plus en plus petits dans la recherche structurelle. En cristallographie aux rayons X, la plus petite dimension possible d'un cristal est de 1 micron, et seulement si l'on utilise les sources de rayons X les plus brillantes et des détecteurs sans bruit. Cependant, ces dernières années, le besoin d'analyser la structure de substances qui ne forment que des microcristaux, c'est-à-dire des cristaux de quelques centaines de nanomètres ou moins, s'est accru. Ces dernières années, une nouvelle méthode d'analyse, la MicroED, a été mise au point. Elle utilise la diffraction des électrons sur un microscope électronique TEM pour mesurer les structures moléculaires 3D des matériaux nanocristallins.