ZSX Primus 400
Le spectromètre ZSX Primus 400 de Rigaku a été spécialement conçu pour traiter des échantillons très grands et/ou lourds. Acceptant des échantillons jusqu'à 400 mm de diamètre, 50 mm d'épaisseur et 30 kg de masse, ce système est idéal pour l'analyse de cibles de pulvérisation, de disques magnétiques, de films multicouches ou pour l'analyse élémentaire de grands échantillons.
XRF avec système d'adaptateur d'échantillon personnalisé
Ce spectromètre WDXRF s'adapte à tous les types d'échantillons et à tous les besoins d'analyse spécifiques. Il s'adapte à différentes tailles et formes d'échantillons en utilisant des adaptateurs (sur commande) en option. Avec un point de mesure variable (30 mm à 0,5 mm de diamètre, avec sélection automatique en 5 étapes) et une capacité de cartographie avec des mesures multipoints pour vérifier l'uniformité de l'échantillon, cet instrument unique et flexible peut simplifier considérablement vos processus de contrôle qualité.
XRF avec caméra disponible et éclairage spécial
Une caméra en temps réel optionnelle permet de visualiser la zone d'analyse à l'intérieur du logiciel. L'opérateur a une certitude totale quant à ce qui est mesuré.
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