Système de cristallographie à rayons X PX Scanner

compact

PX Scanner pour le blindage par diffraction in situ Le PX Scanner est un système entièrement intégré pour le criblage in situ et la collecte de données de cristaux dans les plaques de cristallisation SBS et les puces microfluidiques. Ce système clé en main combine la visualisation des échantillons et le criblage aux rayons X in situ pour fournir un outil compact permettant d'évaluer la qualité des échantillons sans avoir à retirer les cristaux de leur environnement de croissance protégé. Le système comprend un générateur de rayons X en Cu à tube scellé microfoyer, un système d'imagerie cristalline, un plateau automatique à 6 degrés d'inclinaison, un détecteur CCD et un logiciel CrystalEyes intuitif. Avec le PX Scanner, il est possible d'identifier rapidement si un cristal contient du sel ou de la protéine et d'évaluer la qualité de diffraction des échantillons sans avoir à les retirer de la plaque de cristallisation. Logiciel CrystalEyes Le PX Scanner est équipé du logiciel CrystalEyes qui permet aux utilisateurs de mettre en file d'attente le criblage de plusieurs cristaux à partir de plusieurs gouttes pour un criblage immédiat. Le logiciel comprend des outils de réduction automatique des données et une interface graphique facile à utiliser pour visualiser les images et les résultats de diffraction des rayons X.