Spectromètre à fluorescence NEX DE VS

EDXRFde processd'inspection

NEX DE VS Le nouveau Rigaku NEX DE VS est un petit analyseur élémentaire EDXRF de paillasse (variable) de haute performance. Il offre une large couverture élémentaire avec un logiciel QuantEZ sous Windows® facile à apprendre. Analyse par petites taches, du sodium (Na) à l'uranium (U), de presque toutes les matrices - des solides, films minces et alliages aux poudres, liquides et boues. Analyse élémentaire XRF sur le terrain, en usine ou en laboratoire Spécialement conçu et mis au point pour une utilisation industrielle intensive, que ce soit dans les usines ou dans des environnements de terrain éloignés, la puissance analytique supérieure, la flexibilité et la facilité d'utilisation du NEX DE ajoutent à son attrait pour une gamme toujours plus large d'applications, incluant l'exploration, la recherche, l'inspection RoHS en vrac, l'éducation, ainsi que les applications industrielles et de surveillance de production. Qu'il s'agisse d'un contrôle de qualité de base (CQ) ou de ses variantes plus sophistiquées - comme le contrôle de qualité analytique (CQA), l'assurance qualité (AQ) ou le contrôle statistique de processus comme Six Sigma - le NEX DE est le choix fiable et performant pour les analyses élémentaires courantes par XRF. XRF avec tube à rayons X 60kV et détecteur SDD Le tube à rayons X 60 kV et le détecteur de dérive au silicium FAST SDD® FAST SDD® refroidi par effet Peltier offrent une répétabilité et une reproductibilité exceptionnelles à court terme et à long terme avec une excellente résolution maximale des éléments. Cette capacité de haute tension (60 kV), ainsi que le courant d'émission élevé et les multiples filtres à tubes à rayons X automatisés, offrent une vaste gamme d'applications XRF polyvalentes et de faibles limites de détection (LOD).