Diffractomètre à rayons X RAPID II

Le RAPID II est sans doute le détecteur de zone le plus polyvalent des rayons X dans l'histoire de l'analyse des matériaux. Dans la production pendant plus d'une décennie et sans cesse amélioré pendant cette période, le succès du RAPID II est un témoignage de la pertinence de la technologie de plaque d'imagerie pour la mesure de spectres de diffraction et de la diffusion diffuse à partir d'un large éventail de matériaux. Conçu pour la polyvalence Le RAPID II combine une exceptionnellement plaque d'imagerie élevé et active de la zone qui est sensible à un large éventail de sources de rayonnement avec la souplesse nécessaire pour qu'il s'accouple avec une grande variété de sources de rayons X et d’optiques. La nature de la plaque de détecteur d'imagerie signifie que les mesures faibles peuvent être facilement en présence de fortes mesures. Faible coût de propriété Combinant un fait établi de conception avec le temps avec l'absence d'un besoin pour l'étalonnage signifie que le RAPID II est un détecteur qui peut être maintenu sur le terrain avec un minimum de temps. La preuve est dans les résultats Les expériences menées sur le RAPID II ne sont limitées que par l'imagination du chercheur. Des exemples comprennent, la phase d’identification des échantillons de poudre, de micro-diffraction cartographie jusqu'à 10 microns, de diffusion diffuse, de diffraction de fibre, de l’analyse de petite molécule de structure, de stress et des mesures de texture, etc.