Microscope Raman SPM/AFM

pour analyseconfocalnanoscope

Vous pouvez combiner la puissance d'inVia avec des microscopes à sonde à balayage (SPM et AFM) pour étudier la composition, la structure et les propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique. Choisissez le meilleur système InVia est incroyablement flexible ; Renishaw peut le coupler directement à une large gamme d'AFM et de SPM de fournisseurs tels que : Bruker Nano Surfaces Nanonics NT-MDT JPK Park Nanosurf Choisissez le meilleur SPM/AFM pour vos besoins. TERS : diffusion Raman améliorée par la pointe Certains systèmes inVia-AFM peuvent effectuer la diffusion Raman améliorée par la pointe (TERS). Cette technique passionnante utilise une pointe plasmonique pointue pour obtenir des informations chimiques à l'échelle nanométrique. La cartographie TERS complète StreamLine™ et StreamHR™, ce qui vous donne la possibilité d'étudier vos échantillons à la résolution de votre choix. Une efficacité maximale Le bras de couplage flexible spécialement conçu par Renishaw peut être utilisé pour intégrer optiquement inVia aux SPM/AFM. Il utilise des miroirs pour diriger la lumière, offrant une efficacité supérieure à celle du couplage par fibre optique. Vous pouvez obtenir vos spectres plus rapidement et avec un meilleur rapport signal/bruit. L'alignement est facile. Tous les systèmes combinés sont dotés d'un système vidéo intégré avec éclairage en lumière blanche, qui vous permet de voir clairement la pointe de la sonde et le spot du laser Raman, ce qui est essentiel pour les travaux TERS. Même endroit, même moment Vous pouvez avoir confiance dans vos données. Vous pouvez acquérir simultanément des données Raman et AFM à partir du même point de l'échantillon sans avoir à le déplacer. Cela garantit la cohérence de vos données, même si votre échantillon évolue dans le temps. Un seul système combiné L'analyse est co-localisée ; vous n'avez pas besoin de déplacer votre échantillon entre les systèmes, puis de chercher laborieusement à retrouver le même point d'intérêt.