Microscope pour analyse SAM 400
pour la rechercheà haute vitesseacoustique à balayage

Microscope pour analyse - SAM 400 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - pour la recherche / à haute vitesse / acoustique à balayage
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Caractéristiques

Applications
pour analyse, pour la recherche
Autres caractéristiques
à haute vitesse, acoustique à balayage, pour semi-conducteur

Description

Le SAM 400 est un outil performant permettant des investigations acoustiques non destructives pour des applications dédiées d'analyse, de contrôle qualité et de recherche à haut débit. Il dispose d'un nouvel étage sans entretien à grande vitesse et de nouvelles technologies de radiofréquence et de transducteurs jusqu'à 400 MHz, contrôlés par une interface graphique conviviale. Construit selon les normes de l'industrie des semi-conducteurs autour d'une plate-forme centrale utilisant les dernières technologies de production et de recherche, le SAM 400 peut traiter avec précision des plaquettes jusqu'à 300 mm et des échantillons jusqu'à 660 x 860 x 60 mm (p/l/h). Les fréquences ultrasonores vont jusqu'à 500 MHz avec des transducteurs de 10 MHz à 400 MHz. Différentes tailles de réservoirs et de plateaux sont disponibles. Distance de détection en fonctionnement : x=250 µm-430 mm, y=250 µm-430 mm, z=100mm

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.