Microscope acoustique à balayage SAM 300 TWIN
pour analysepour la recherche

Microscope acoustique à balayage - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - pour analyse / pour la recherche
Microscope acoustique à balayage - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - pour analyse / pour la recherche
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Applications
pour analyse, pour la recherche
Autres caractéristiques
acoustique à balayage

Description

Le JUMEAU du SAM 300 est un outil de haute performance permettant des investigations acoustiques non destructives pour l'analyse de sortie, le contrôle de qualité et les applications élevés de recherches. Elles comportent un nouveau scanner à grande vitesse de mouvement linéaire et de nouvelles technologies de rf et de transducteur de jusqu'à 400 mégahertz, commandés par une interface graphique conviviale. Un nouveau concept master/slave permet à des rangées de deux transducteurs d'acquérir des images acoustiques simultanées. Construit aux standards de l'industrie de semi-conducteur autour d'une plate-forme de noyau qui utilise la dernière technologie de production et de recherches, le BALAYAGE de JUMEAU de SAM peut exactement manipuler des gaufrettes jusqu'à 300 millimètres. Les fréquences d'ultrason s'étendent jusqu'à 500 mégahertz avec des transducteurs de 10 mégahertz - 400 mégahertz. Gamme de balayage : x=250 µm-320 millimètre, y=250 µm-320 millimètre, z=100mm Le foyer automatique est appliqué à chaque transducteur

---

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.