Photomètre VIS-NIR GUIDED WAVE™ ClearView® db
de processmultiparamètres

Photomètre VIS-NIR - GUIDED WAVE™ ClearView®  db - Process Insights - de process / multiparamètres
Photomètre VIS-NIR - GUIDED WAVE™ ClearView®  db - Process Insights - de process / multiparamètres
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Caractéristiques

Type
de process
Spectre
VIS-NIR
Options et accessoires
multiparamètres

Description

Notre photomètre à double faisceau GUIDED WAVE™ ClearView® db VIS-NIR est le premier véritable photomètre à filtre à double faisceau disponible dans le commerce. L'un des principaux attraits de tout analyseur photométrique est son faible coût ; cependant, le compromis est généralement la performance. Nous avons considérablement amélioré les performances du photomètre en ajoutant notre système optique unique à double faisceau, qui assure un fonctionnement stable à long terme. Les configurations flexibles du ClearView db VIS-NIR Dual-Beam Photometer répondent également à de nombreuses exigences d'analyse en ligne pour les flux de processus liquides et gazeux. AVANTAGES La conception stable à double faisceau réduit la dérive due au vieillissement de la lampe, ce qui permet d'obtenir des performances à long terme Plusieurs options de boîtiers permettent de réduire les coûts d'installation Six positions de filtre permettent une analyse multiparamétrique Deux canaux pour un coût réduit par point d'échantillonnage Contrôle de la turbidité en option Compatible avec une large gamme de cellules d'écoulement et de sondes d'insertion Peu de maintenance Lampe halogène au tungstène à longue durée de vie (>4000 heures typiques) La performance à double faisceau permet d'espacer les nettoyages de la sonde qu'est-ce qu'un véritable photomètre à double faisceau ? Un véritable photomètre à double faisceau est un instrument analytique qui utilise deux faisceaux lumineux pour mesurer les propriétés d'un échantillon. Dans un photomètre à simple faisceau typique, un faisceau de lumière est dirigé à travers l'échantillon et la quantité de lumière absorbée ou transmise par l'échantillon est mesurée. Toutefois, des variations au niveau de la source lumineuse ou du détecteur peuvent affecter la précision de la mesure.

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Hyvolution 2025
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28-30 janv. 2025 paris (France) Stand 4M42

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